一、OAS超表面的設(shè)計(jì)原理和仿真路線二、rcwa參數(shù)掃描數(shù)據(jù)庫三、序列模式下的折超混合光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)和優(yōu)化實(shí)例四、折超混合光學(xué)系統(tǒng)的非序列追跡分析五、折超混合光學(xué)系統(tǒng)的物理光學(xué)分析 (部分案例展示)04/活動(dòng)詳情主辦單位:武漢二元科技有限公司會(huì)議地點(diǎn):上海活動(dòng)時(shí)間:5月15日(9點(diǎn)-12點(diǎn)/14點(diǎn)-17點(diǎn))免費(fèi)線下交流會(huì)